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展望X射線光譜儀的原理和發(fā)展
發(fā)布時間：2020-10-16 12:49:12 點擊：5598
物質的組分和結構分析是現(xiàn)代科學認知物質世界的重要手段發展目標奮鬥，傳統(tǒng)的化學分析法技術先進、等離子休發(fā)射光譜法、紅外光譜法延伸、拉曼光譜法等分析方法或因分析速度慢認為、造價高昂組織穿透性弱等弱點而使應用受到限制。
X射線光譜儀法以其分析速度快、非破壞性提高鍛煉、分析元素范圍廣發展邏輯、分析含量范圍廣、分析精度高有所提升、制樣方法簡單樣品形態(tài)不受約束等優(yōu)異特性,在組分和結構分析中占據(jù)了愈發(fā)重要的地位,甚至在某些方面取代了上述傳統(tǒng)分析方法聽得進，廣泛應用于物理、化學先進水平、材料便利性、生物、醫(yī)學重要平臺、天文深刻認識、環(huán)境、考古應用提升、工業(yè)生產等領域主動性。隨著電子技術、真空技術發展的關鍵、光學技術道路、計算機技術的發(fā)展, X射線光譜儀技術獲得了巨大突破,其分析儀器不斷朝著小型化、多功能化真諦所在、智能化方向發(fā)展指導，并不斷產生了新技術和新分支,豐富著X射線熒光光譜儀家族體系、拓寬著應用領域充分。
元素特征X射線的頻率與原子序數(shù)的二次冪成線性關系,且特征X射線的強度與元素的含量正相關進一步完善。當被測樣品受到足夠高能量的光子或粒子照射時，各元素原子的內殼層電子被電離形成空穴關註度，較高能級的電子自發(fā)向內層躍遷填充空穴,使原子恢復到低能態(tài),同時輻射出具有特定能級差的X射線稱之為特征X射線橫向協同。每種元素都具有其特定波長的X射線,通過測定樣品中元素相應的特征譜線及其強度就可以對元素進行定性定量分析。
按色散的不同, X射線光譜儀可分為.波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀( EDXRF)敢於挑戰；按激發(fā)條件的不同迎難而上，可分為全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)、偏振X射線熒光光譜儀( P-EDXRF)探索、微束X射線熒光光譜儀(μ -XRF)、質子激發(fā)X射線熒光光譜儀( PIXE)產業、同步輻射X射線熒光光譜儀(SRXRF)等;按應用場合的不同滿意度，可分為現(xiàn)場X射線光譜儀和在線X射線光譜儀等。
