服務支持Service
To first-class products
Quality service to meet customer needs
國內(nèi)市場部
0510-83205379
24小時服務
國際貿(mào)易部
0510-68795132 15106177808
傳 真：0510-83213469
E-mail：wuxi@chxyq.com
地 址：江蘇省無錫市濱湖區(qū)梁通路19號免費咨詢熱線:
400-0833-980
X熒光光譜儀的多種樣品檢測方法
發(fā)布時間：2022-12-05 08:51:12 點擊：4012
X熒光光譜儀是一款可應用于多種類樣品檢測的儀器，無論對于固體效高、液體開展攻關合作、粉塵製度保障、氣體等均可以進行有效分析。其進行樣品檢測的方式是怎么樣的呢的有效手段？
樣品制備X射線熒光光譜法是一種表面分析辦法統籌推進，必需注重分析面相對于囫圇樣品是否具有代表性，樣品是否勻稱關鍵技術，任何制樣過程和步驟必需有十分好的重復可操作性了解情況。不同X射線熒光光譜儀對樣品要求不同，不同樣品有不同的制樣辦法技術研究。固體樣品假如大小外形合適可以挺直分析重要的，外形不規(guī)章可以經(jīng)過容易的切割達到X熒光光譜儀的要求，只需舉行表面處理姿勢，液體樣品可以挺直分析和諧共生，大氣塵埃通常收集在濾膜上挺直舉行分析，而粉末樣品的制樣辦法就比較復雜技術，通常需要經(jīng)過壓片處理。
X熒光光譜儀的土壤檢測分析
工作曲線的制作和校正根據(jù)儀器的操作規(guī)程開啟儀器推動，并預熱儀器直至儀器穩(wěn)定相對較高。挑選與測試樣品基體相匹配的標準樣品，根據(jù)光譜儀的優(yōu)化測量條件信息，用X射線熒光光譜儀測定標準樣品中待分析元素的熒光強度相關，按照標準祥品所給定的標準值和光譜儀所測得的強度制作工作曲線。電子電氣產(chǎn)品涉及的材料品種十分之多豐富內涵，分析元素的特征譜線常受到來自測試樣品中的基體影響生產效率、元素間譜線重疊干擾等因素影響產能提升，這些影響因素可通過工作曲線的校正，詳細可以通過背景扣除法節點、基本參數(shù)法通過活化、閱歷系數(shù)法等校正辦法舉行干擾校正。
待測樣品的采譜測定將待測樣品放在樣品室內(nèi)舉行測試的特點。假如樣品是液態(tài)健康發展、粉末或顆粒，或者只是一很小的樣品大數據，它需要在帶有不行重復用法薄膜的樣品杯里舉行測量長效機製。操作這個窗口薄膜時，當心不要接觸它的表面以免對其造成污染數字技術。全部樣品必需徹低籠罩光譜儀的測量窗口奮戰不懈，對于輕合金起碼達到4mm厚，密度較大的合金起碼1mm厚措施，塊狀塑料1cm厚大大縮短，粒狀塑料放樣品杯里2cm厚，液態(tài)更高要求、粉末基本上填滿樣品杯越來越重要的位置。
使用X熒光光譜儀對多種樣品進行分析檢測，是一種非常高效的檢測方式共同學習。上一篇：直讀光譜儀的定性定量分析檢測方法 下一篇：有效提高直讀光譜儀檢測準確度的措施
