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X射線熒光分析儀器鍍窗厚度的影響
發(fā)布時間：2020-09-01 09:03:30 點擊：5389
X射線熒光分析儀器鍍窗厚度是選擇探測器時需要考慮的另一個要點不斷豐富，由于鍍窗對輕元素分析譜線的強(qiáng)吸收，使得其探測效率很低動手能力，采用25um的鍍窗等地，將很難測定Na等輕元素提高鍛煉，故為分析輕元素智能化，當(dāng)然希望鍍窗越薄越好。但過薄的鍍窗厚度其使用壽命也會受到影響進一步完善。因此選擇鍍窗厚度時集聚，應(yīng)根據(jù)擬分析的對象，確定合適鍍窗厚度的探測器調整推進，如果沒有實際需求狀況，過分追求薄的鍍窗是沒有必要的。
創(chuàng)想能量色散熒光光譜儀
此外機製，對常規(guī)X射線熒光分析而言全過程，通常的探測器厚度已滿足需求，如果需要分析重元素的K系譜線或高能粒子使命責任，探測器厚度也是需要重視的一個環(huán)節(jié)效果。探測器厚度越大使用，越有利于分析高能粒子或高能射線合規意識。
在選購一臺能量探測器時，一方面要考慮探測器的分辨率有效性，另一方面還需要考慮是將主元素測定作為分析重點創新內容，以尋求盡可能寬的濃度測定范圍，還是尋求好的分辨率而偏重于微量元素分析廣泛關註，綜合與折中大概是通常的選擇服務延伸。
總之共創輝煌，在選擇探測器時，應(yīng)根據(jù)擬分析對象進一步，綜合考慮分辨率大部分、線性響應(yīng)范圍、鉞窗厚度實際需求、探測器厚度及有效探測面積解決方案，權(quán)衡主、次善謀新篇、痕量元素分析范圍增產，有所側(cè)重，以達(dá)到有效滿足多數(shù)分析項目的目的方法。
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