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手持式x射線光譜儀器檢測首飾的難點
發(fā)布時間:2019-06-24 08:31:25 點擊:6867
手持式x射線光譜儀器在檢測貴金屬中已經成為一種常用的手段基本情況,但首飾雖然有貴金屬卻并不是普通的x射線光譜儀器能夠檢測的應用創新。
一般情況下發展需要,熒光光譜儀要求被分析的樣品應具有平坦而均勻的被照射面積影響力範圍,才能獲得可靠而精確的結果經過。這些光譜儀的照射面積比較大(一般直徑20毫米以上)橫向協同,然而,很多貴金屬產品姿勢,例如金銀項鏈相互融合,鉑金鉆戒等都比較精致,形狀結構復雜綠色化,有的還鑲嵌珠寶或其他合金不同需求,因此,使用這類X射線熒光光譜儀難以對首飾等貴金屬產品進行可靠的分析保持穩定。
雖然使用小孔光闌或準直器可以獲得微束實現(xiàn)微區(qū)檢測總之。但是面向,小孔光闌或準直器在縮小光束光斑大小的同時也降低了光束的能量,導致為了得到較高的光束能量研學體驗,所使用的X射線管需要具有大功率建設項目,增加了驅動難度和散熱問題。同時落實落細,由于降低了光束能量相結合,對于包金層、鍍金層過厚的貴金屬制品無法檢測技術先進。
手持式x射線光譜儀器
為了解決上述問題更多的合作機會,1991年,Kumakhov等人將X光透鏡引入X射線熒光光譜儀中實現(xiàn)微區(qū)檢測(WO9208325)認為。X射線熒光光譜儀中使用Kumakhov透鏡調整光束,可以在不損失光束能量的同時獲得小的照射光斑新趨勢,照射到樣品上的光束具有高強度反應能力。
X光透鏡能夠在不減小照射能量的情況下獲得小的照射光斑,逐漸成為貴金屬檢測用XRF中產生微束的主要手段學習。但是結構重塑,由于 X 光透鏡是通過利用透鏡中的X 射線的反射、散射應用優勢、
吸收或諸如此類使X射線聚焦的裝置高質量發展,在高能量X射線的情況下(高能量X射線是檢測貴金屬所必須的),反射高效節能、散射或吸收的效率低更默契了,且因偏離聚焦光程而導致的照射樣本上除焦點以外的一部分的概率變大。換言之培訓,在使用X光透鏡的方法中不合理波動,高能量X射線的聚焦效率低,且微弱照射焦點外圍以及因此離焦的光暈分量增加(在樣本表面處擴展的分布)重要工具。結果積極拓展新的領域,在受激的高能量X射線是必需的情況下,不可能忽視由于同時激發(fā)波及焦點外圍的區(qū)域而造成的影響并且損失了關于X射線分析中那一部分正被測量的準確度更優質,使得測量精度成為問題相對開放。