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X熒光光譜儀的定量分析和定性分析
發(fā)布時間:2019-04-29 14:02:06 點擊:8601
X熒光光譜儀進行定量分析的依據(jù)是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比:Ii=IsWi 式中,Is為Wi=100%時,該元素的熒光X射線的強度又進了一步。根據(jù)上式組合運用,可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法體驗區,增量法說服力,內(nèi)標(biāo)法等進行定量分析至關重要。
上述這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似研究與應用,否則試樣的基體效應(yīng)或共存元素的影響飛躍,會給測定結(jié)果造成很大的偏差。所謂基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強度所成的影響全面協議≈匾渴?;瘜W(xué)組成的變化,會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收工具,也會改變熒光增強效應(yīng)智慧與合力。
例如,在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時廣泛關註,由于一次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生NiKα熒光X射線促進進步,NiKα在樣品中可能被Fe吸收,使Fe激發(fā)產(chǎn)生FeKα優勢領先,測定Ni時迎來新的篇章,因為Fe的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低,測定Fe時推動並實現,由于熒光增強效應(yīng)使結(jié)果偏高薄弱點。但是,配置相同的基體又幾乎是不可能的優化程度。為克服這個問題積極性,目前X熒光光譜儀定量方法一般采用基本參數(shù)法奮勇向前。該辦法是在考慮各元素之間的吸收和增強效應(yīng)的基礎(chǔ)上,用標(biāo)樣或純物質(zhì)計算出元素?zé)晒?/span>X射線理論強度實施體系,并測其熒光X射線的強度組建。將實測強度與理論強度比較,求出該元素的靈敏度系數(shù)效果較好,測未知樣品時重要的意義,先測定試樣的熒光X射線強度,根據(jù)實測強度和靈敏度系數(shù)設(shè)定初始濃度值等多個領域,再由該濃度值計算理論強度再獲。將測定強度與理論強度比較,使兩者達到某一預(yù)定精度應用擴展,否則要再次修正體驗區,該法要測定和計算試樣中所有的元素,并且要考慮這些元素間相互干擾效應(yīng)活動上,計算十分復(fù)雜新格局。 因此,必須依靠計算機進行計算服務水平。
上述方法可以認(rèn)為是無標(biāo)樣定量分析最新。當(dāng)欲測樣品含量大于1%時,其相對標(biāo)準(zhǔn)偏差可小于1%處理方法。
X熒光光譜儀的定量分析和定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長重要作用,因此根據(jù)熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀習慣,對于一定晶面間距的晶體充足,由檢測器轉(zhuǎn)動的2θ角可以求出X射線的波長λ,從而確定元素成分的積極性。
事實上綠色化發展,X熒光光譜儀在定性分析時,可以靠計算機自動識別譜線不久前,給出定性結(jié)果用上了。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時,仍需人工鑒別能力建設。首先識別出X射線管靶材的特征X射線和強峰的伴隨線關註,然后根據(jù)2θ角標(biāo)注剩斜譜線。在分析未知譜線時無障礙,要同時考慮到樣品的來源連日來,性質(zhì)等因素,以便綜合判斷認為。
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